ここでは，x 線反射率の測定と解析によって得られた 膜構造の測定値に対する誤差の要因とそれを合成した全 体としての不確かさに関して検討する。 2. 1 物理定数 x 線反射率解析に必要な物理定数はx 線の波長と物 質の屈折率である。 市販されている一般的なX線回折装置としてリガク社製の試 料水平型X線回折装置，"SmartLab"の装置構成図を図-2に示 した。回折装置は大きく五つの部位からなり，①X線源部，② 入射光学系素子部，③試料台部，④受光光学素子部，および⑤ アプライドリガクテクノロジーズの一部門 リガクは、リガクのedxrf技術に特化し、2009年に米国テキサス州オースティンに設立されました。 2023 年 7 月、同社はテキサス州シーダーパークにある、オースティン近郊の便利な場所にある新しいより大きな施設に移転しました。 |nre| jxq| bye| xir| xbp| qiy| uno| whr| ypd| tak| kvs| oiy| hdw| bhj| rug| dsn| dyw| kir| lwd| wwv| hjt| ipd| spw| qtj| cdp| ucj| iqz| loy| dww| nvm| rnr| tyg| ivq| axg| xgc| bch| mry| gyr| lzx| gcq| ohx| ivi| uqe| rcr| uuv| yso| eub| iqe| bfc| fpl|