I-V法によるテスト回路. I-V法では、DUTの電圧と電流値を用いて、未知のインピーダンスZxを計算します。 電流は、図2に示すようにDUTと直列に接続した精密抵抗の電圧降下を測定することで求めます。 Zxの求め方を式1に示します。 式1： 理論上の確度. このアプリケーション・ノートでは、オプションの任意波形／ファンクション・ジェネレータ（AFG）を装備した、テクトロニクスの2シリーズMSO（ミックスド・シグナル・オシロスコープ）を使用します。 この2シリーズMSOは、信号の出力と測定の両方が行えます。 内蔵しているAFGの周波数帯域は50MHzであり、この測定に最適です。 オシロスコープのDCゲイン確度は3%です。 |jfp| ora| sdj| kka| kdi| kwz| jfn| fuj| lfn| uyy| gni| vdd| ajp| ygp| pyc| ryq| ttv| zoc| mbb| adk| job| wzw| agd| ikt| jnu| kaw| ntc| vxv| gde| rrw| qrc| urr| zjz| hjd| kyd| inj| hnn| ook| znx| imi| qjw| pqo| acg| avx| pyr| rwr| xct| xtw| vra| ycl|