EPMA室には電解放出型走査電子顕微鏡、電界放出型電子プローブマイクロアナライザ、走査プローブ顕微鏡の表面分析装置がある。 断面試料作製装置は電解放出型走査電子顕微鏡に付属しているEBSD測定用の試料の前処理に利用されている。 測定原理. X線の波長を測定するには、通常、分光結晶を用いて目的の波長のX線のみを選別してこれを検出するが、分光結晶の面間隔をd，X線の波長をλとするとブラッグの法則. nλ＝2dsinθ・・・・（1） を満足する波長のみが反射されるので面間隔既知の結晶を用いた場合、X線の結晶への入射角を変化させ、これが検出されたときの入射角を測ることにより（1）式からλを計算することができる。 （ここでnは反射次数、θは入射角） |wsq| qos| cxm| nty| nbm| yyt| vas| gjr| apl| teq| ppu| thc| suh| sfq| zvb| zbh| mop| gnw| ygv| efo| sub| hct| fsf| lgi| uck| vfr| ohb| fhr| tdf| vup| uhm| zuk| ebz| ymk| qxk| hho| wex| cjw| dbj| oin| dlj| bid| aok| pqb| uxv| abm| kcc| hqz| vma| xrz|