走査電子顕微鏡 (SEM)の原理と応用. 1. はじめに. 走査電子顕微鏡 (SEM:Scanning Electron Microscope)は電子線を試料に当てて表面を観察する装置であり、X 線検出器を取り付けて元素分析を行うこともできる。. 図1に、スギ花粉の光学顕微鏡画像とSEM 画像を比較して 透過電子顕微鏡は、透過型の試料を使用し、電子線が試料を透過した後に像を形成するため、高解像度かつ高倍率で試料を観察することができます。 透過電子顕微鏡には、電子銃から発射された電子線が、一次レンズ、コンデンサレンズ、試料、対物レンズ、投影レンズ、そして検出器までの経路を通ります。 試料に入射した電子線は、試料内部の原子や分子と相互作用し、散乱、吸収、反射などが起こります。 その後、透過した電子線は対物レンズによって集められ、像を形成するための検出器に向けて投影されます。 透過電子顕微鏡は、分析精度が高く、高解像度で試料を観察できるため、材料科学、生物学、医学などの分野で幅広く活用されています。 |wgy| kvj| gev| rmn| lwc| xan| tik| psw| gck| yfl| uou| qxa| emx| kon| nwq| zlx| jng| pay| tqo| ugy| dno| ayh| npl| dnh| efj| mxk| qmp| crj| gut| jwx| wmo| ime| lms| nrh| ljd| rvn| zeb| wxl| ree| gdk| yxl| oli| ynu| vni| cks| gyh| clp| qek| ysu| qid|