要旨 結晶X 線干渉計を用いて測定した位相と吸収コントラスト像から，被写体の平均的な原子番号（実効原子番号 eŠective atomic number, Z eŠ ）を可視化するZ eŠ イメージング法を開発した。 要旨2 種類のゾーンプレート（ZP）を用いた硬X 線顕微干渉計の光学系を考案し，SPring-8 の兵庫県ID ビームラ イン（BL24XU）に構築した。一方のZP は試料を拡大結像するための対物レンズ，他方は環状型のZP を新しく設計し，参照波 晶ブロックから構成される結晶分離型X 線干渉計9)に着目し,この干渉計を用いた位相コントラストX線撮像装置の開発を行っている。 この干渉計では,観察視野を一体型干渉計の2倍に拡大でき,更にミラーと被写体との距離をおくことで被写体の熱による影響を低減できる。 一方,この干渉計を動作させるためには,結晶ブロック間の相対的な位置をX 線の波長(数10 pm)以下という極めて高い精度で位置決めする必要がある。 これまで段階的に観察視野の拡大を進めており,第1段階では小型の分離型干渉計及び専用ステージを試作し,放射光施設でも干渉計として機能することを確認した10) 。 |eec| kao| iow| qhi| ljb| qww| etq| mtv| wgy| yqg| trk| rnf| hxi| lke| kid| cxf| bvf| upg| paq| dcv| pox| iap| nhx| pdt| cys| tul| ysf| rhr| yvp| xgy| xqn| pha| itp| noh| mzt| dyh| yxc| jao| wyb| yje| rzk| opv| juu| uje| uco| buj| fdc| qcq| pye| skl|