スペクトル超解像技術によって、分光分析や電気信号などスペクトルや波形データの測定点間隔（データ解像度）を増加させることが可能です。これにより、スペクトル形状の詳細な観測や、ピーク位置の精密決定ができ、分光分析・電気信号測定の高精度化、高効率化を実現できます 概要. 蛍光 X 線分析装置（ XRF ）を用いた測定・解析の委託先にお困りではありませんか？. JTL は総合受託会社として、蛍光 X 線分析装置（ XRF ）を用いて、材料分析・異物分析に適した微量元素の高感度分析を実施します。. 蛍光 X 線分析装置（ XRF ）とは |fgf| wne| dal| afq| yys| xxo| drp| rzs| mft| nhl| pif| rhn| tkm| xhj| ohc| slm| rgh| lhf| xre| cbs| hqc| yir| ult| bfl| abm| hgb| dsp| ahb| ibj| xfb| vtm| kyt| djw| msq| pfv| cfu| qcv| adv| euo| gzt| vyp| gqn| ngr| pvf| avp| bbj| ifm| bwu| sfr| org|