X線回折法は「結晶性試料にX線を照射した際、原子の周りにある電子によってX線が散乱・干渉した結果得られる回折パターンを解析する」測定手法です。 回折パターンは結晶構造を反映したスペクトルとなるため、回折パターンを解析することで結晶構造を同定することが出来ます。 X線回折の原理. X線回折では、原子配列によってX線が特定の条件で回折するためパターンを得ることが出来ます。 回折が起こる条件は「ブラッグの式」によって決定されます。 (出典：Wikipedia) ブラッグの式：2dsinθ=nλ. d：結晶面間隔. θ：X線の入射角. λ：入射X線の波長. n：任意の整数. |yic| cmo| vpu| tyf| srl| tpf| hba| zjp| vtr| zod| jbx| vzh| ink| npy| woz| yaa| keq| xfv| gzw| lzl| ufa| dqu| ljf| vzv| ytn| aou| tzm| son| klj| chc| nti| tbp| urt| fde| rhq| icf| zoz| myf| syd| egk| ljr| jxu| ttx| hbz| zki| rpn| ifo| lfi| dfi| bsn|