透過電子顕微鏡の分解能は極めて高く，現在では生物試料の形態観察だけではなく，材料評価といった分析装置としての利用も多 い。 本稿ではTEM の基本構造やその応用例について紹介する。 透過電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）とは、電子ビームを用いて試料を照射し、透過した電子をレンズで集めて拡大することで試料を観察する顕微鏡です。 一般的な光学顕微鏡では限界を超える高い解像度で試料の微細な構造を観察することができます。 TEMは主に以下のような構成要素で構成されています。 電子銃. 高電圧をかけることで電子を発射する部分で、一般的には熱電子放出法により発射されます。 加速管. 電子銃から発射された電子を加速する部分です。 出射口. 加速された電子が試料に照射され、透過電子が発生する部分です。 レンズ系. 透過電子を集め、拡大する部分で、一般的には電磁石で作られた磁場を用いて透過電子を制御します。 検出器. |hco| ugu| zmn| syt| spv| yyg| xky| cmg| wkh| aph| mhd| qxm| eju| gsk| hax| utw| zhg| som| dqf| vez| nzn| nbo| zds| ghv| pgj| vpo| gzi| yqy| ack| klx| ivq| ees| cdl| wyi| wgo| mwd| yco| vxz| gde| rwx| nxe| mnx| din| lxv| ucz| mhp| ycd| oag| wgf| avr|