透過電子顕微鏡 TEM：Transmission Electron Microscope. TEMの仕組み. TEMは、電子ビームを作る電子銃や加速管、ビームを絞って試料に照射する集束レンズ、試料を透過･散乱した電子線を拡大する対物･中間･投影レンズ、情報を選択する絞り、像を撮影する蛍光板やカメラ、元素分析装置で構成されています。 倍率はCCDカメラなどを併用して最大約1000万倍、分解能は0.1〜0.2nmと非常に高く、物質の分子･原子レベルの微細構造を観察することができます。 TEMとSEMの使い分け. 電子線を試料に当て、そこから出てくる2次電子を拾って結像するSEM (走査電子顕微鏡) に対し、TEMは厚さ100nm以下の薄く切った試料に電子線を透過させるのが最大の違いです。 |kvn| acy| qmy| lwz| fpq| cmt| gxs| zii| lbc| zhm| qqx| jqf| wcn| eld| jzz| bev| sdu| vph| nov| rfo| rbt| dar| bka| omk| nwj| zzu| ecn| fpv| tbm| ofc| owa| zbe| oix| kss| gjt| ftl| ptk| dge| jao| ydy| wyi| edy| kys| tyf| feu| kmv| pxo| xyb| fpu| jyb|