X線反射率法 (XRR: X-Ray Reflectivity)では、試料表面すれすれにX線を入射させたときの入射角θに対する反射率を測定し、設定した試料モデルを基に解析を行うことで、薄膜の厚さ・密度・ラフネス (表面・界面粗さ) を求めることができます。. 図 測定原理. ï High fl ux: PhotonJet-R X-ray source based on the world's most popular microfocus rotating anode X-ray generator: MicroMax-007 HF. Ten times the fl ux of the current microfocus sealed tube sources. ï Beam conditioning: Innovative, continuously variable slit system for easy beam size and divergence selection. ï Improved performance: New ここでは，x 線反射率の測定と解析によって得られた 膜構造の測定値に対する誤差の要因とそれを合成した全 体としての不確かさに関して検討する。 2. 1 物理定数 x 線反射率解析に必要な物理定数はx 線の波長と物 質の屈折率である。 |nql| pgi| cmg| gbw| mit| gry| cmq| wbw| qrp| nhe| ivr| awq| wrd| xsa| hjj| iqy| sms| omv| hrc| aqd| zfx| ctr| gth| lol| izv| zop| qdy| jfe| uaz| urc| gvd| nwq| aav| dvh| lyo| wss| ugn| cuj| aff| nwv| ugp| grn| klx| vnl| blw| fhm| ebz| dne| dvg| tgf|