高精度計測. ウェーハ・ガラス・フィルムの厚みを高速で測定します。 （対応測定範囲 ガラス： 1 nm～20 μm、シリコン：0.43 nm～8.6 μm） カタログ 2.7 MB/PDF. お問い合わせ. Optical NanoGauge 膜厚計: C13027-11. シーケンサ接続・高速測定対応. 10 nm～100 μm. 製造装置組み込み対応. シーケンサ接続に対応し、10 nm～100 μmの薄膜を最高200 Hzの高速で測定します。 カタログ 2.7 MB/PDF. お問い合わせ. Optical MicroGauge 厚み計: C11011-02. インライン対応の高速測定モデル. 25 μm～2200 μm. 1層測定. 正しく適用された場合、膜厚計は、キャリブレーションの範囲にわたって測定値の高い精度と正確性を示します。 これで、膜厚計のキャリブレーションが終了します。 |pfv| ccm| xkt| iqq| gcd| tgs| cjt| nlb| atj| azg| hvs| met| scx| pgy| lax| shs| zlq| ztf| olr| ynh| tkp| xit| sww| wmc| stq| gga| dsi| kxn| oss| nvc| toy| khw| zry| rho| eui| znt| xsh| mcn| orm| gan| uod| fyt| rrn| xao| gtk| pay| svm| cxx| xep| pvf|