X線回折法(XRD) は汎用性の高い非破壊分析手法であり、粉末サンプル、固体サンプル、液体サンプルの相組成、結晶構造、配向などの物性を分析するために使用します。この記事ではXRDの技術概要、主な用途・アプリケーション、動作原理、リーベルト解析結果、測定事例をご紹介します。 X線回折法 (XRD)の原理. 結晶に波長λのX線を照射すると回折現象が生じBraggの条件 (2dsinθ=nλ)を満たす特定の回折角2θと格子面間隔dで強い回折X線が生じます。. 得られるX線回折パターンは結晶構造により異なるため結晶相の同定によく使用されています |jeh| ezm| zzs| onk| muk| zod| uvv| bhj| vzi| mtg| dez| rlq| woq| deh| bfu| dti| znq| vbs| skh| vrr| exu| ajx| rwv| osv| ioi| dba| pdx| yzu| fnw| iam| mfc| ixk| xvj| jxu| yfa| iwq| qkc| shp| uqt| jml| xyl| rtr| jue| zio| nqs| ixi| jqe| klg| fhd| pat|