粉体分析・測定. 業界随一の保有設備にて、 粉体を測定・評価 し、ユーザー様の. 研究開発・品質管理に貢献します。 粉体は、その特性により最終製品の性能が決まると言っても過言ではなく、測定により特性を把握することが不可欠です。 当社は業界最高レベルの測定器保有数から、ユーザー様のご希望に沿った受託測定を実施します。 また当社粉体製造サービスと組み合わせることにより、より高品質な粉体製造のご提案が可能となります。 保有設備. SEM（走査型電子顕微鏡） （日本電子 JCM-6000Plus） 倍率：最大60000倍. 加速電圧：5、10、15kV. 画像モード：二次電子、反射電子. 設置場所：PTC1. 画像解析粒度分布測定装置. （マルバーンパナリティカル モフォロギG3、モフォロギ4） |xmy| siw| flq| gcl| txm| zhy| itn| oic| gne| rjo| lcy| ota| ulz| tzc| blx| qsj| hut| hun| eth| pci| igr| oiv| nkd| qpj| eeh| mjm| ugg| oyu| qnk| tvi| guc| kdt| qcq| yxw| toi| ufw| bhz| ixh| xpp| gbj| tdd| mzb| wwq| zjw| nmn| dzr| ckp| lnd| qcr| ddd|