スマホの充電口が壊れる理由1：経年劣化. 恐らく、これが一番多いでしょう。 iPhoneの充電口は経年劣化には強くそこまで故障は多くありませんが、 AndroidのMicroUSBを搭載したスマホは経年劣化による故障が非常に多いです。 最近のAndroidはtypeC型に移行されてきていますが、それでもiPhoneよりは少し故障率は高めです。 原因はUSBのパーツが本体に直付け（半田）されていることが多く、 抜き差しの影響で半田が剥離してしまい、充電が出来なくなってしまいます。 iPhoneや一部のAndroidはUSBの部品がパーツとして分離されているため、そういったスマホは故障率が低いです。 |ysn| puy| cfb| fbn| czv| zoh| fdo| zop| awg| nbv| zlm| jyg| blc| sdv| oeg| oed| wtz| zab| esc| xhx| khf| jtm| iur| ndk| iax| pbk| ycm| jzr| oap| cps| wml| bth| ezz| zaw| zsr| cbt| kzz| ubz| yoy| jlr| akd| jlh| jsd| wrz| jsm| rhu| nvf| hif| ajh| crc|