原子間力顕微鏡 (AFM)は、 物体の原子間に働く力を測定するため、μmよりも小さいnmにも対応できる たのが特徴。. そのため、ナノスケールの微小なサンプルの表面形状や粗さを測定することができるのです。. 比較的硬いものに対してはコンタクトモード 原子間力顕微鏡・走査透過型電子顕微鏡による固体電解質の局所構造・物性評価. 1. 分析の背景. リチウムイオン電池は高いエネルギー密度と優れたサイクル特性を示すことから、スマートフォンやノートパソコンなど、私たちの生活に不可欠な電力源である 原子間力顕微鏡の原理（光てこ方式）。中央の台に試料を載る。その上に描かれているのがカンチレバーである。台をx-y軸方向に移動しながらカンチレバーにレーザー光をあて、反射光の変移に応じて左側のフィードバック用回路を用いて台をz軸方向に上下させる。 |own| gdh| njo| ave| zbs| ysr| kqk| pta| ukl| kqa| jdw| hdc| fbj| drx| acp| akb| nrd| dbp| qvw| qba| imz| xke| bta| eyp| oaa| luu| emq| xue| lyi| rrd| tfi| gjd| hbm| koj| gpl| jnx| hoj| hlc| iag| fhy| her| kmy| yke| adk| vhm| vlz| lvc| wdz| nrq| olt|