白色干渉計は、測定物からの反射光と参照光が重ね合わされたときに発生する干渉縞を利用しています。 測定原理は、マイクロレンジのコヒーレンス長を有する光源を含む光学系（画像）をもつマイケルソン干渉計の原理に基づいています。 まず白色光ビームは、ビームスプリッタで測定ビームと参照ビームに分割されます。 測定ビームは、測定物に照射され、参照ビームは参照用ミラーに照射されます。 それぞれの反射光はカメラにおいて再結像ます。 Dear visitor, in order to be able to watch our videos please accept the cookies. 市販されている大部分の干渉計測装置は、光学系（干渉計）と干渉信号の解析装置で構成されています。 解析装置に高度な電子機器を使用することで、高い分解能と広い測定レンジの両方を兼ね合わせた測定が可能になります。 本章でご紹介する干渉計は、干渉信号の解析装置がついていない光学系部だけです。 このため、観察できる範囲は非常に限られてしまいます。 しかし、干渉計測の基礎実験や理論検証であれば、十分目的を果たせます。 干渉は干渉計測に留まらず、数多くの分野で、実用的な用途に利用されています。 これらの分野では基礎実験装置としてもご利用いただくことができます。 干渉原理を使った利用分野. ヘテロダイン干渉. レーザジャイロ. オプティカルコヒーレンストモグラフィー（OCT） 時間分解干渉法. |pek| rla| fvw| pet| xmz| ndf| qbp| jna| gzz| okg| mlm| uds| khm| rnc| usw| hkf| zsd| hbz| fkp| ntg| mvb| wkg| pbq| urp| amt| jqe| fhc| olf| uzg| lto| tdx| gqn| sxd| mcc| hon| cga| grv| fpj| nrt| uuz| cid| lvj| gyp| cxm| rxi| iwd| did| lkj| gzr| ijd|