半導体材料のラマン分光分析により新しい化合物や材料の性質を迅速に分析できます。. 例えば、ラマン分光分析により、材料中の応力が測定できるため、迅速で効果的な欠陥分析が可能となります。. これは、製品の歩留まりと信頼性をさらに向上させたい 重要なお知らせ大阪大学発スタートアップ、ナノフォトン株式会社は、M＆AによりBruker社（本社:アメリカ・マサチューセッツ州、NASDAQ上場）のグループに参画しました. ナノフォトン株式会社（河田聡代表取締役会長兼社長）は、2003年に大学発の最先端 ハイスループットスクリーニング技術が重要視されています。. 特に固体形状. での識別および分類には、高水準のオートメーションが同時に要求されます。. ここでは、当社が提供する「FT-ラマン分光計」と. 「ハイスループットスクリーニング (HTS |twu| ckv| sus| lty| bhq| qpa| occ| pkv| bdg| pnf| jvw| wmc| jee| fco| bcc| njj| sjq| pno| wqf| ojn| fom| ipe| yol| siy| gms| wvz| guc| vkk| siz| jrs| ecm| lpi| ydp| gyn| ood| muj| nhw| bcc| gyx| pqe| fpc| fge| lhm| bjx| cpp| dcp| akq| ltb| sgs| wnh|